首頁
關于埃芯
關于埃芯
發展歷程
企業文化
埃芯團隊
產品方案
薄膜量測 Thin Film
關鍵尺寸量測 Critial Dimension
材料性能量測 Material Metrology
科學儀器 Scientific Instrument
服務
新聞資訊
企業新聞
行業動態
近期活動
視頻
招賢納士
社會招聘
校園招聘
加入我們
聯系我們
English
產品方案
產品方案
|
服務
X射線輕元素及薄膜量測設備
?thena Xcellence? LE系列
?thena Xcellence? LE系列采用自主研發的高通量X射線熒光(XRF)技術,提供B, P, C, O, N, F等各種輕元素的成分量測。
埃芯公眾號
首頁
|
關于埃芯
|
產品方案
|
新聞資訊
|
招賢納士
|
聯系我們
深圳市埃芯半導體科技有限公司版權所有
地址:深圳市龍華區觀光路1310號龍華區半導體產業園埃芯大樓
備案號:
粵ICP備12084576號
彩神8争霸大发邀请码